专利名称：缺陷检测装置、缺陷检测系统及缺陷检测方法专利类型：发明专利
发明人：梅红伟,涂彦昕,胡伟,刘健犇,刘立帅,王黎明申请号：CN201910317402.7申请日：20190419公开号：CN110031511A公开日：20190719
摘要：一种缺陷检测装置，用于检测复合绝缘子金具压接处的缺陷，所述缺陷检测装置包括一固定装置、一电磁激励源、一红外热像采集仪、一电磁屏蔽罩及一放置台，所述固定装置具有一空腔，所述电磁激励源及红外热像采集仪固定在所述空腔内，所述放置台置于所述空腔内，所述固定装置的外部设置所述电磁屏蔽罩，所述电磁激励源用于发射电磁激励信号于所述复合绝缘子金具压接处，所述红外热像采集仪用于采集所述金具压接处的红外热图信息。本发明还提供一种复合绝缘子金具压接处的缺陷检测系统及缺陷检测方法。
申请人：清华大学深圳研究生院,中国电力科学研究院有限公司
地址：518055 广东省深圳市南山区西丽大学城清华校区
国籍：CN
代理机构：深圳市鼎言知识产权代理有限公司
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