生产晶片DPU=1,缺陷出现服从泊松分布,那随机抽一个,该晶片没有缺陷的概率是多少?

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首先,缺陷出现服从泊松函数,泊松分布函数如下:

松分布适合于描述单位时间(或空间)内随机事件发生的次数。如某一服务设施在一定时间内到达的人数,机器出现的故障数,自然灾害发生的次数,一块产品上的缺陷数等等。带入本题,随机抽取一个产品,缺陷DPU=1,所以随机抽取一个产品无缺陷(x=0)的概率就是:


扩展,六西格玛绿带手册第54页,有相关解释:

一次合格率first time yield, FTY)是指第一次就把事情做对,由没有经返工、返修便通过的过程输出单位数而计算出的合格率。

当缺陷以随机方式出现时,可以认为单位产品的缺陷服从泊松分布。则单位产品出现d个缺陷的概率是:

当x=0时,即一次合格率:

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