生产晶片DPU=1，缺陷出现服从泊松分布，那随机抽一个，该晶片没有缺陷的概率是多少？
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首先，缺陷出现服从泊松函数，泊松分布函数如下：
松分布适合于描述单位时间（或空间）内随机事件发生的次数。如某一服务设施在一定时间内到达的人数，机器出现的故障数，自然灾害发生的次数，一块产品上的缺陷数等等。带入本题，随机抽取一个产品，缺陷DPU=1，所以随机抽取一个产品无缺陷（x=0）的概率就是：
扩展，六西格玛绿带手册第54页，有相关解释：
一次合格率first time yield, FTY）是指第一次就把事情做对，由没有经返工、返修便通过的过程输出单位数而计算出的合格率。
当缺陷以随机方式出现时，可以认为单位产品的缺陷服从泊松分布。则单位产品出现d个缺陷的概率是：
当x=0时，即一次合格率：
